Plasma FIB/SEM per applicazioni a temperatura ambiente e criogeniche
Descrizione
Das neue Gerät bestehend aus einem Rasterelektronenmikroskop und einer Strahlquelle mit fokussiertem Plasma-Ionenstrahl soll sowohl für Anwendungen bei tiefen Temperaturen (gefrorenes biologisches Gewebe und empfindliche Proben wie z.B. Batteriematerialien) als auch bei Raumtemperatur (alle Arten vo...
Riepilogo AI
Il documento di gara descrive il processo di acquisizione di un sistema Plasma FIB/SEM (Microscopio a Fascio di Ioni Focalizzati/Microscopio Elettronico a Scansione) progettato per applicazioni a temperatura ambiente e a basse temperature. Il documento specifica i requisiti per la progettazione, la ...
- Il partecipante deve compilare il foglio dei prezzi, riempiendo tutti i campi a sfondo azzurro chiaro e lasciando invariati i campi di calcolo gialli.
- La gara richiede una comprensione approfondita sia delle scienze dei materiali che delle applicazioni della vita criogenica.
Panoramica dei rischi
- Disproportionate Requirements1
- Mandatory Consortium or Partnership1
- High Minimum Insurance Coverage1
- Overly Tight Deadlines1
- Restrictive Language Requirements1
- Other SME Obstacles1
Documenti del bando
9 documenti · 3.3 MB · PDF (6) · XLSX (2) · DOCX (1)
| Tipo | Pagine | Dimensione | Categoria | |
|---|---|---|---|---|
| 3 | 153 KB | unknown | ||
| 3 | 154 KB | unknown | ||
| docx | 1 | 172 KB | Modulo | |
| xlsx | 1 | 47.7 KB | pricing | |
| 5 | 191 KB | unknown |
Cronologia delle modifiche(3)
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- ——
- Minore—
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Segnalazioni
6 segnalazioni identificate — Rischio complessivo: high
Requisiti finanziari
Specifiche tecniche
Documenti di gara
9 documenti disponibili
Storico modifiche
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Informazioni sul committente
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- 19
- Ultima attività
- 6 giorni fa
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