FIB/SEM à plasma pour des applications à température ambiante et cryogéniques
Description
Das neue Gerät bestehend aus einem Rasterelektronenmikroskop und einer Strahlquelle mit fokussiertem Plasma-Ionenstrahl soll sowohl für Anwendungen bei tiefen Temperaturen (gefrorenes biologisches Gewebe und empfindliche Proben wie z.B. Batteriematerialien) als auch bei Raumtemperatur (alle Arten vo...
Résumé IA
Le document de marché décrit le processus d'approvisionnement d'un système de microscopie électronique à balayage et de faisceau d'ions focalisés (FIB/SEM) conçu pour des applications à température ambiante et à basse température. Le document précise les exigences relatives à la conception, à la fab...
- Le soumissionnaire doit remplir la feuille de prix en complétant tous les champs en bleu clair et en laissant les champs de calcul jaunes inchangés.
- Le marché exige une compréhension approfondie des sciences des matériaux et des applications en sciences de la vie cryogéniques.
Aperçu des risques
- Disproportionate Requirements1
- Mandatory Consortium or Partnership1
- High Minimum Insurance Coverage1
- Overly Tight Deadlines1
- Restrictive Language Requirements1
- Other SME Obstacles1
Documents de l'appel d'offres
9 documents · 3,3 MB · PDF (6) · XLSX (2) · DOCX (1)
| Type | Pages | Taille | Catégorie | |
|---|---|---|---|---|
| 3 | 153 KB | unknown | ||
| 3 | 154 KB | unknown | ||
| docx | 1 | 172 KB | Formulaire | |
| xlsx | 1 | 47,7 KB | pricing | |
| 5 | 191 KB | unknown |
Historique des modifications(3)
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À propos de l'adjudicateur
- Actifs
- 4
- Total
- 19
- Dernière activité
- il y a 6 jours
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